環(huán)境掃描電鏡是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀性貌觀察手段，可直接利用樣品表面材料的物質(zhì)性能進行微觀成像。掃描電鏡的優(yōu)點是有較高的放大倍數(shù)，萬倍之間連續(xù)可調(diào)，有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構，試樣制備簡單。它是當今十分有用的科學研究儀器。
 

　　環(huán)境掃描電鏡的應用范圍：
 

　　1、金屬、陶瓷、礦物、水泥、半導體、紙張、塑料、食品、農(nóng)作物和化工產(chǎn)品的顯微形貌、晶體結構和相組織的觀察與分析。
 

　　2、各種材料微區(qū)化學成分的定量檢測。
 

　　3、粉末、微粒、納米樣品形態(tài)觀察和粒度測定。
 

　　4、機械零件與工業(yè)產(chǎn)品的失效分析。
 

　　5、鍍層厚度、成分與質(zhì)量評定。
 

　　6、刑偵案件物證分析與鑒定。
 

　　7、新材料性質(zhì)的測定和評價。
 

　　8、在生物、醫(yī)學和農(nóng)業(yè)等領域也有廣泛的應用。
 

　　環(huán)境掃描電鏡在材料領域的具體應用：
 

　　1、材料表面形貌的觀察：通過掃描電子顯微鏡我們可以觀察材料的表面形貌。
 

　　2、斷口形貌的觀察：通過掃描電鏡我們可以進行材料的斷口形貌的觀察，借助掃描電鏡分析斷口的破壞特征、零件內(nèi)部的結構及缺陷，從而判斷零件損壞的原因。
 

　　3、微區(qū)化學成分分析：在樣品的處理過程中，有時需要提供包括形貌、成分、晶體結構或位向在內(nèi)的豐富資料，以便能夠更全面、客觀地進行判斷分析。為此，相繼出現(xiàn)了掃描電鏡—電子探針多種分析功能的組合型儀器。掃描電鏡如配有X射線能譜(EDS)和X射線波譜成分分析等電子探針附件，可分析樣品微區(qū)的化學成分等信息。